Měření integrovaných obvodů

redakce: Tomáš Gucký

edice: Polovodičová technika (18)

Popisuje měření operačních zesilovačů, obvodů pro nízkofrekvenční zesilovače, integrovaných obvodů pro vysokofrekvenční aplikace, jednoúčelových analogových obvodů, číslicových integrovaných obvod ...
Popisuje měření operačních zesilovačů, obvodů pro nízkofrekvenční zesilovače, integrovaných obvodů pro vysokofrekvenční aplikace, jednoúčelových analogových obvodů, číslicových integrovaných obvodů s bipolárními tranzistory, unipolárních číslicových integrovaných obvodů a zabývá se i výběrem měřicího zařízení pro integrované obvody.
číst celou anotaci

nakladatel: Státní nakladatelství technické literatury

vydána: 1977, Praha, 1. vydání

347 stran

(OCoLC): 42156553

Zdroj informací o knížkách: Obálky knih