Obálka knihy
není k dispozici
Noise and reliability of semiconductor devices
proceedings of the International NODITO Workshop, [Brno], July, 18-20, 1995
redakce: Josef Šikula, Pavel Schauer
nakladatel: Technical University
vydána: 1995, Brno
vazba: brožovaná, 228 stran
ISBN: 9788021406636
(OCoLC): 36508096