Obálka knihy
není k dispozici

Noise and reliability of semiconductor devices

proceedings of the International NODITO Workshop, [Brno], July, 18-20, 1995

redakce: Josef Šikula, Pavel Schauer

nakladatel: Technical University

vydána: 1995, Brno

vazba: brožovaná, 228 stran

ISBN: 9788021406636

(OCoLC): 36508096

Zdroj informací o knížkách: Obálky knih