Obálka knihy
není k dispozici

Rastrovací mikroskopie při kritické energii elektronů

Scanning microscopy at cricital energy of electrons: zkrácená verze PhD Thesis

Jitka Káňová

edice: Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis (123)

nakladatel: Vysoké učení technické, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

vydána: 2002, V Brně

vazba: brožovaná, 39 stran

jazyk: čeština

ISBN: 9788021421189

(OCoLC): 53270524

Zdroj informací o knížkách: Obálky knih